Metrology/Profiler

Bruker, Contour SP, Floor Standing 3D Optical Profilometers/브루커 PCB 장비, 3D 광학 프로파일러

Equipment ListBruker, Contour SP, 3D Optical Profilometers 안녕하세요.중고 반도체, 연구 장비, 각종 산업 장비 및 부품을 거래하는 세미스토리 입니다.오늘 소개해드릴 장비는 새로 매입한 브루커 PCB 장비입니다.​ContourSP는 고밀도 상호 연결 PCB(HDI-PCB) 기판의 생산 제어를 위해 설계된 대형 패널 계측 시스템입니다. 이 시스템은 이전 세대의 백색광 간섭계(WLI) 계측기보다 측정 처리량을 두 배 이상 향상시켜, PCB 제조 공정에서 각 층의 정확한 3D 임계 치수(CD) 측정을 수행합니다.ContourSP는 나노미터 해상도의 고정밀 3D 측정을 위해 특허 받은 Wyko 수직 주사 간섭측정법(VSI)을 활용하며, 새로운 내진동성 시스템 설계를..

2025. 3. 19.
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[중고 반도체 장비 판매] KLA TENCOR, P15, Surface Profiler/웨이퍼 표면 측정 검사기 (windows XP Professional)

Equipment ListKLA TENCOR, P15, Surface Profiler안녕하세요.중고 반도체, 연구 장비, 각종 산업 장비 및 부품을 거래하는 세미스토리 입니다.오늘 소개해드릴 장비는 새로 매입한 KLA사의 P-15 장비 입니다.​P-15장비는 고해상도 웨이퍼 표면 측정 시스템으로 웨이퍼 표면의 결함, 평탄도 등을 분석하며 반도체 제조 공정에서 사용하는 장비입니다.P-15는 P-10 모델의 발전형으로, 더 향상된 측정 정밀도와 속도를 제공합니다.[EQUIPMENT SPEC]ID199240074EquipmentSurface Profiler (windows XP Professional)DescriptionN/AMakerKLA TENCORModelP15VintageUnknownConditionW..

2024. 10. 25.
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[중고 반도체 장비 판매] KLA TENCOR, P15, Surface Profiler/웨이퍼 표면 측정 검사기 (windows NT)

Equipment ListKLA TENCOR, P15, Surface Profiler안녕하세요.중고 반도체, 연구 장비, 각종 산업 장비 및 부품을 거래하는 세미스토리 입니다.오늘 소개해드릴 장비는 새로 매입한 KLA사의 P-15 장비 입니다.​P-15장비는 고해상도 웨이퍼 표면 측정 시스템으로 웨이퍼 표면의 결함, 평탄도 등을 분석하며 반도체 제조 공정에서 사용하는 장비입니다.P-15는 P-10 모델의 발전형으로, 더 향상된 측정 정밀도와 속도를 제공합니다.[EQUIPMENT SPEC]ID199240073EquipmentSurface Profiler (windows NT)DescriptionN/AMakerKLA TENCORModelP15VintageUnknownConditionWorkingQuantit..

2024. 10. 25.
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[중고 반도체 판매] KLA TENCOR, Alpha Step IQ, Alpha Step IQ3/중고 웨이퍼 프로파일링 장비

Equipment ListKLA TENCOR, Alpha Step IQ, ASIQ3안녕하세요.중고 반도체, 연구 장비, 각종 산업 장비 및 부품을 거래하는 세미스토리 입니다.오늘 소개해드릴 장비는 새로 매입한 KLA사의 알파스텝 장비 입니다.​KLA의 Alpha Step IQ는 고급 표면 프로파일링 장비로, 주로 반도체 및 전자 기기 제조 공정에서 사용됩니다. 이 장비는 비접촉 방식으로 높은 정밀도로 표면 높이, 형상, 평탄도 등을 측정할 수 있습니다.Alpha Step IQ는 웨이퍼, 박막, 및 기타 표면의 특성을 정밀하게 평가합니다.특히, Alpha Step IQ는 빠른 측정 속도와 높은 정확성을 제공하여, 반도체 제조에서 중요한 역할을 합니다.[EQUIPMENT SPEC]ID199240098Equi..

2024. 10. 25.
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[중고 반도체 장비 판매] KLA TENCOR, P10, Surface Profilometer/웨이퍼 표면 측정 장비

Equipment ListKLA TENCOR, P10, Surface Profilometer안녕하세요.중고 반도체, 연구 장비, 각종 산업 장비 및 부품을 거래하는 세미스토리 입니다.오늘 소개해드릴 장비는 새로 매입한 KLA의 표면 측정 장비 P-10 제품입니다.​P-10 장비는 반도체 제조 공정에서 사용하는 고해상도 표면 측정 시스템입니다.주로 웨이퍼 및 기타 반도체 소자의 표면 결함, 평탄도, 형상 등을 분석하는 데 사용됩니다. P-10은 비접촉 방식으로 높은 정밀도를 유지하며, 다양한 재료와 구조의 특성을 분석할 수 있습니다. [EQUIPMENT SPEC]ID199240072EquipmentSurface ProfilometerDescriptionN/AMakerKLA TENCORModelP10Vint..

2024. 10. 25.