Metrology/Profiler

Bruker, Contour SP, Floor Standing 3D Optical Profilometers/브루커 PCB 장비, 3D 광학 프로파일러

Equipment ListBruker, Contour SP, 3D Optical Profilometers 안녕하세요.중고 반도체, 연구 장비, 각종 산업 장비 및 부품을 거래하는 세미스토리 입니다.오늘 소개해드릴 장비는 새로 매입한 브루커 PCB 장비입니다.​ContourSP는 고밀도 상호 연결 PCB(HDI-PCB) 기판의 생산 제어를 위해 설계된 대형 패널 계측 시스템입니다. 이 시스템은 이전 세대의 백색광 간섭계(WLI) 계측기보다 측정 처리량을 두 배 이상 향상시켜, PCB 제조 공정에서 각 층의 정확한 3D 임계 치수(CD) 측정을 수행합니다.ContourSP는 나노미터 해상도의 고정밀 3D 측정을 위해 특허 받은 Wyko 수직 주사 간섭측정법(VSI)을 활용하며, 새로운 내진동성 시스템 설계를..

2025. 3. 19.
Metrology

FOUR DIMENSIONS, CVMAP 3093B, Hg-CV Map/수은 프로브 시스템, 전기 화학 맵 분석 장비, 순환 전압 전류 분석장비

Equipment ListFOUR DIMENSIONS, CVMAP 3093B, Hg-CV Map안녕하세요.중고 반도체, 연구 장비, 각종 산업 장비 및 부품을 거래하는 세미스토리 입니다.오늘 소개해드릴 장비는 새로 Hg-CV Map 분석/측정 장비입니다.​CVMAP 3093B 모델은 수은 전극을 이용해 전기화학적 특성을 정밀하게 분석하는 수은 프로브 시스템 장비입니다. 이 장비는 순환 전위차 분석(Cyclic Voltammetry)을 통해 전극의 성능과 물질의 전기화학적 반응을 매핑​​하고, 고해상도의 데이터를 제공하여 연구자들이 물질의 미세한 전기화학적 변화를 정확하게 분석합니다. 액체 금속 수은을 사용하여 반도체 재료에 일시적인 손상 없는 전기 접점을 형성하고MOS, MIS, 쇼트키 장벽 등의 전기적..

2025. 3. 5.
Metrology/SEM

Hitachi, S-3000H, SEM (Scanning Electron Microscope)/주사전자현미경, 중고SEM장비, 히타치 주사전자현미경

Equipment ListHitachi, S-3000H, Scanning Electron Microscope 안녕하세요.중고 반도체, 연구 장비, 각종 산업 장비 및 부품을 거래하는 세미스토리 입니다.오늘 소개해드릴 장비는 새로 들여온 히타치의 SEM 장비입니다.​SEM장비로 불리는 주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)은 전자빔을 시료의 표면에 조사하여, ​시료와 상호작용하는 전자들을 감지해 이미지를 생성하는 고해상도 분석 도구입니다. SEM은 높은 배율과 해상도를 제공하여 나노미터 수준의 미세한 구조까지 관찰할 수 있으며, 3D 형태로 표면을 분석할 수 있습니다. 그 중 당사에서 보유중인 S-3000H모델은 분해능 3.5nm, 최대 배율은 500,000배로 매우 높은 확대..

2025. 1. 6.
Metrology

KIMSOPTEC, LENSCAN-LS40, Thickness Measuring Machine/두께측정기, 렌즈두께측정기

Equipment ListKIMSOPTEC, LENSCAN-LS40, Thickness Measuring Machine 안녕하세요.중고 반도체, 연구 장비, 각종 산업 장비 및 부품을 거래하는 세미스토리 입니다.오늘 소개해드릴 장비는 새로 매입한 킴스옵텍사의 렌즈두께측정장비 입니다.​KIMSOPTEC의 LENSCAN-LS40 모델은 광학 렌즈의 두께, 기타 부품의 두께를 정밀하게 측정하는 장비입니다. 이 장비는 다양한 형태와 크기의 렌즈에 대해 정확한 두께 측정을 할 수 있습니다. 직관적인 인터페이스를 통해 쉽게 측정 작업을 수행할 수 있고, 빠른 속도로 효율적인 생산을 지원합니다. 또한, LENSCAN-LS40은 다양한 측정 모드를 제공하여 렌즈의 중앙 및 가장자리 두께 등 여러 위치에서 측정할 수 있..

2025. 1. 2.
Metrology/Profiler

[중고 반도체 장비 판매] KLA TENCOR, P15, Surface Profiler/웨이퍼 표면 측정 검사기 (windows XP Professional)

Equipment ListKLA TENCOR, P15, Surface Profiler안녕하세요.중고 반도체, 연구 장비, 각종 산업 장비 및 부품을 거래하는 세미스토리 입니다.오늘 소개해드릴 장비는 새로 매입한 KLA사의 P-15 장비 입니다.​P-15장비는 고해상도 웨이퍼 표면 측정 시스템으로 웨이퍼 표면의 결함, 평탄도 등을 분석하며 반도체 제조 공정에서 사용하는 장비입니다.P-15는 P-10 모델의 발전형으로, 더 향상된 측정 정밀도와 속도를 제공합니다.[EQUIPMENT SPEC]ID199240074EquipmentSurface Profiler (windows XP Professional)DescriptionN/AMakerKLA TENCORModelP15VintageUnknownConditionW..

2024. 10. 25.
Metrology/Profiler

[중고 반도체 장비 판매] KLA TENCOR, P15, Surface Profiler/웨이퍼 표면 측정 검사기 (windows NT)

Equipment ListKLA TENCOR, P15, Surface Profiler안녕하세요.중고 반도체, 연구 장비, 각종 산업 장비 및 부품을 거래하는 세미스토리 입니다.오늘 소개해드릴 장비는 새로 매입한 KLA사의 P-15 장비 입니다.​P-15장비는 고해상도 웨이퍼 표면 측정 시스템으로 웨이퍼 표면의 결함, 평탄도 등을 분석하며 반도체 제조 공정에서 사용하는 장비입니다.P-15는 P-10 모델의 발전형으로, 더 향상된 측정 정밀도와 속도를 제공합니다.[EQUIPMENT SPEC]ID199240073EquipmentSurface Profiler (windows NT)DescriptionN/AMakerKLA TENCORModelP15VintageUnknownConditionWorkingQuantit..

2024. 10. 25.
Metrology/Profiler

[중고 반도체 판매] KLA TENCOR, Alpha Step IQ, Alpha Step IQ3/중고 웨이퍼 프로파일링 장비

Equipment ListKLA TENCOR, Alpha Step IQ, ASIQ3안녕하세요.중고 반도체, 연구 장비, 각종 산업 장비 및 부품을 거래하는 세미스토리 입니다.오늘 소개해드릴 장비는 새로 매입한 KLA사의 알파스텝 장비 입니다.​KLA의 Alpha Step IQ는 고급 표면 프로파일링 장비로, 주로 반도체 및 전자 기기 제조 공정에서 사용됩니다. 이 장비는 비접촉 방식으로 높은 정밀도로 표면 높이, 형상, 평탄도 등을 측정할 수 있습니다.Alpha Step IQ는 웨이퍼, 박막, 및 기타 표면의 특성을 정밀하게 평가합니다.특히, Alpha Step IQ는 빠른 측정 속도와 높은 정확성을 제공하여, 반도체 제조에서 중요한 역할을 합니다.[EQUIPMENT SPEC]ID199240098Equi..

2024. 10. 25.
Metrology/Profiler

[중고 반도체 장비 판매] KLA TENCOR, P10, Surface Profilometer/웨이퍼 표면 측정 장비

Equipment ListKLA TENCOR, P10, Surface Profilometer안녕하세요.중고 반도체, 연구 장비, 각종 산업 장비 및 부품을 거래하는 세미스토리 입니다.오늘 소개해드릴 장비는 새로 매입한 KLA의 표면 측정 장비 P-10 제품입니다.​P-10 장비는 반도체 제조 공정에서 사용하는 고해상도 표면 측정 시스템입니다.주로 웨이퍼 및 기타 반도체 소자의 표면 결함, 평탄도, 형상 등을 분석하는 데 사용됩니다. P-10은 비접촉 방식으로 높은 정밀도를 유지하며, 다양한 재료와 구조의 특성을 분석할 수 있습니다. [EQUIPMENT SPEC]ID199240072EquipmentSurface ProfilometerDescriptionN/AMakerKLA TENCORModelP10Vint..

2024. 10. 25.