Equipment List
Hitachi, S-3000H, Scanning Electron Microscope
안녕하세요.
중고 반도체, 연구 장비, 각종 산업 장비 및 부품을 거래하는 세미스토리 입니다.
오늘 소개해드릴 장비는 새로 들여온 히타치의 SEM 장비입니다.
SEM장비로 불리는 주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)은 전자빔을 시료의 표면에 조사하여,
시료와 상호작용하는 전자들을 감지해 이미지를 생성하는 고해상도 분석 도구입니다.
SEM은 높은 배율과 해상도를 제공하여 나노미터 수준의 미세한 구조까지 관찰할 수 있으며,
3D 형태로 표면을 분석할 수 있습니다. 그 중 당사에서 보유중인 S-3000H모델은 분해능 3.5nm, 최대 배율은 500,000배로
매우 높은 확대를 제공하여 미세한 표면 구조나 조성을 정밀하게 분석할 수 있습니다.
또한, 시료 크기는 최대 150mm의 높이를 수용할 수 있어 다양한 크기의 시료를 분석할 수 있습니다.
이 장비는 시료의 표면 특성뿐만 아니라 화학적 성분 분석도 가능하며, EDS(에너지 분산형 X선 분석)와 같은 추가 장비를 통해
화학적 구성을 확인할 수 있습니다. SEM은 비파괴적으로 시료를 검사할 수 있어 민감한 시료나 고가의 소재 분석에 적합한 장비입니다.
반도체, 나노기술, 생명과학, 소재과학 등 다양한 분야에서 중요한 역할을 합니다.
[EQUIPMENT SPEC]
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ID
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199240165
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Equipment
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SEM (Scanning Electron Microscope)
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Description
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Resolution 3.5nm, Specimens size 150mm diameter
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Maker
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Hitachi
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Model
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S-3000H
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Vintage
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Unknown
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Condition
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As-is
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Quantity
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1
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현 장비는 화성 공장에서 둘러보실 수 있으며,
위 장비에 관심이 있으시거나 기타 문의 사항이 있으실 경우
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